缺陷測(cè)量是工業(yè)內(nèi)窺鏡檢測(cè)中一種比較重要的操作，用于對(duì)缺陷的情況進(jìn)行量化評(píng)估。本內(nèi)窺鏡使用說明，旨在介紹目前應(yīng)用比較多、或者說比較先進(jìn)的三種測(cè)量方法，以期幫助您在選購內(nèi)窺鏡時(shí)在這方面有較為清晰的認(rèn)識(shí)。

普通雙物鏡測(cè)量法：這是比較傳統(tǒng)的測(cè)量方法，目前不少內(nèi)窺鏡品牌都采用該測(cè)量方法。原理：使用雙物鏡立體測(cè)量鏡頭，從不同角度對(duì)同一目標(biāo)進(jìn)行立體測(cè)量，需要用計(jì)算機(jī)算法來分析用戶光標(biāo)的位置，用三角幾何方法獲得最終的精確測(cè)量結(jié)果。只支持5種測(cè)量模式：長(zhǎng)度、點(diǎn)到線、點(diǎn)到面、面積、多線段，一般情況下的缺陷測(cè)量基本可以滿足需求，但是像航空發(fā)動(dòng)機(jī)檢查這樣的應(yīng)用，對(duì)于發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部損傷的檢測(cè)要求很高的情況下，這種方法還是有一些弊端：1. 測(cè)量模式少，只能完成發(fā)動(dòng)機(jī)80%左右的缺陷測(cè)量任務(wù)；2. 選點(diǎn)過程中可能出現(xiàn)人為誤差；3. 存在點(diǎn)漂移，測(cè)量精度的把控需要一定的經(jīng)驗(yàn)；4. 觀察和測(cè)量需要使用不同的鏡頭，內(nèi)窺鏡使用操作相對(duì)繁瑣。

單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量法：這是目前業(yè)內(nèi)首屈一指的測(cè)量技術(shù)，主要基于光柵對(duì)檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行相位掃描，并通過對(duì)含有相位信息的條紋圖像進(jìn)行相位分析及算法處理，得到被測(cè)物的3D立體模型。例如像韋林工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡MViQ就搭載了這種技術(shù)，有這樣幾個(gè)特點(diǎn)：1. 廣角鏡頭，視野達(dá)到90度以上，達(dá)到了105度，在發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部能夠做到發(fā)現(xiàn)損傷隨時(shí)拍照隨時(shí)測(cè)量，而不必再去更換專用的測(cè)量鏡頭。2. 鏡頭的焦距范圍也非常廣，包括近焦、中焦和遠(yuǎn)焦都有。 3. 八種測(cè)量模式，在長(zhǎng)度、點(diǎn)到線、點(diǎn)到面、面積、多線段的基礎(chǔ)上，增加了深度剖面、區(qū)域深度剖面和測(cè)量平面，測(cè)量模式的多元化，能夠覆蓋現(xiàn)在發(fā)動(dòng)機(jī)檢測(cè)內(nèi)的所有損傷測(cè)量要求。4. 三維空間的點(diǎn)云圖大幅提升檢測(cè)精度。例如測(cè)量裂紋長(zhǎng)度后，可以利用點(diǎn)云圖來驗(yàn)證一下，通過三維模型的不同角度的旋轉(zhuǎn)，看看選點(diǎn)到底精確不精確，測(cè)量模式選取的合適不合適，這些都使得測(cè)量更加精準(zhǔn)。

雙物鏡三維立體測(cè)量法：這個(gè)也是目前非常先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，韋林內(nèi)窺鏡MViQ也應(yīng)用了這種技術(shù)。與普通雙物鏡測(cè)量類似，測(cè)量視圖也是分半的視野，意味著顯像區(qū)域只是全屏幕的一半，但是這種測(cè)量也能在真正意義上實(shí)現(xiàn)三維立體建模，這一點(diǎn)與單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量法是同樣的，也支持八種測(cè)量模式，也有點(diǎn)云圖功能，可以驗(yàn)證選點(diǎn)及測(cè)量的正確性，測(cè)量精度同樣非常高，優(yōu)于普通雙物鏡測(cè)量。

總結(jié)一下，單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量法、和雙物鏡三維立體測(cè)量法，都具有三維立體建模的點(diǎn)云圖，都支持多元化的8種測(cè)量模式，測(cè)量覆蓋面廣，測(cè)量精度高，是目前最為先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)。希望本文提供的內(nèi)窺鏡使用說明，能夠幫助您對(duì)內(nèi)窺鏡測(cè)量功能有所了解。如果您有任何疑問，歡迎咨詢北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司。

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